単電子転送エラー率最小化の指針を発見
(a) シリコン単電子転送素子の概略図。ゲートに印加する高周波信号(周波数f )で電子を1つずつ転送 (b) 転送誤り率の容量結合強さ依存性

G. Yamahata, N. Johnson, and A. Fujiwara, Understanding the mechanism of tunable-barrier single-electron pumping: Mechanism crossover and optimal accuracy, Phys. Rev. B 103, 245306 (2021).

このページを閉じる ]