公開特許一覧 ( -2008)

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特許公開番号     発明の名称
(公告/特許番号)    発明者

特開2008-123767 走査型プローブ顕微鏡用探針
           西口 克彦、山口 浩司、小野 行徳、藤原 聡、永瀬 雅夫

特開2008-123743 電子放出素子
           西口 克彦、山口 浩司、小野 行徳、藤原 聡、永瀬 雅夫

特開2006-088202 機能デバイス、プローブおよびそれを用いた走査プローブ顕微鏡、
                  ならびに、機能デバイスおよびプローブの作製方法
           永瀬 雅夫

特開2005-268686 金属パターン形成方法
           神崎 賢一、永瀬 雅夫

特開2005−026609 集積化電子装置およびその製造方法
(特許4420273)    永瀬 雅夫、生津 英夫

特開2001-304850 傾斜角計測手法
(特許3621329)   永瀬 雅夫、栗原 健二

特開2001-237385 微細構造体装置とその製造方法、及び高密度磁気記憶装置
           永瀬 雅夫、山崎 謙治、栗原 健二

特開2001-050919 内部構造観察方法
           永瀬 雅夫、栗原 健二

特開2000-133795 半導体量子井戸構造およびその製造方法
(特許3645433)   白石 賢二、永瀬 雅夫、堀口 誠二、小野 行徳、影島 博之、高橋 庸夫、田村 浩之

特開2000-077364 パターン形成方法
           山口 徹、生津 英夫、山崎 謙治、永瀬 雅夫、栗原 健二

特開2000-068494 量子構造形成法
           栗原 健二、渡辺 義雄、永瀬 雅夫

特開平10-269782  情報処理方法及び情報処理装置
(特許3706220)    藤原 聡、高橋 庸夫、永瀬 雅夫、村瀬 克実

特開平09-331059 2重障壁構造とその製造方法
           生津 英夫、高橋 庸夫、永瀬 雅夫、栗原 健二

特開平09-306400 電子ビーム計測用ナイフエッジ及びその製法並びに電子ビーム計測用ナイフエッジを用いた電子ビ―ム計測法
           栗原 健二、生津 英夫、永瀬 雅夫、牧野 孝裕、竹中 久貴

特開平09-297017 微細寸法標準構造及び微細寸法標準化方法
(特許3284514)    永瀬 雅夫、栗原 健二、生津 英夫、牧野 孝裕

特開平09-260633 量子細線とその製造方法
           永瀬 雅夫、生津 英夫、栗原 健二、牧野 孝裕

特開平09-229601 平面距離スケールおよびその製造方法
           竹中 久貴、栗原 健二、永瀬 雅夫、生津 英夫

特開平09-190998 微細パタン形成法
(特許3398905)    栗原 健二、生津 英夫、永瀬 雅夫、牧野 孝裕

特開平09-135018 クーロンブロッケイド素子とその製造方法
(特許3200662)    高橋 庸夫、藤原 聡、永瀬 雅夫

特開平08-288523 クーロンブロッケード素子およびその形成方法
           生津 英夫、栗原 健二、永瀬 雅夫、高橋 庸夫

特開平08-094346 平面距離スケール
(特許3104899)    竹中 久貴、永瀬 雅夫、栗原 健二

特開平08-082632 微細構造の構造寸法計測方法
(特許3280525)    永瀬 雅夫、栗原 健二、生津 英夫、岩立 和己、村瀬 克実

特開平08-078648 量子構造形成方法
           栗原 健二、生津 英夫、岩立 和己、永瀬 雅夫、村瀬 克実

特開平08-035975 微細探針形状測定器および微細探針形状測定方法
           永瀬 雅夫、栗原 健二、生津 英夫、岩立 和己、村瀬 克実

特開平07-273083 微細パターン形成法
           生津 英夫、栗原 健ニ、永瀬 雅夫、岩立 和巳、村瀬 克実

特開平07-221098 量子細線の形成方法
           生津 英夫、高橋 庸夫、永瀬 雅夫

特開平07-220987 単結晶Si基板とその製造方法
           永瀬 雅夫、村瀬 克実、石山 俊彦

特開平07-218201 平面距離較正用スケール、その製造方法および平面距離較正方法
           永瀬 雅夫、栗原 健二、生津 英夫、岩立 和己、村瀬 克実、竹中 久貴

特開平07-202165 量子構造の形成方法
           生津 英夫、永瀬 雅夫、栗原 健二、岩立 和巳、村瀬 克実

特開平07-201803 結晶面方位合わせ方法
           生津 英夫、永瀬 雅夫、栗原 健二、岩立 和巳、村瀬 克実

特開平07-130980 電子装置及びその製法
           松本 聡、永瀬 雅夫、岩立 和巳、吉野 秀男

特開平07-122725 電界放出電子装置およびその製造方法
           永瀬 雅夫、岩立 和巳、栗原 健二、吉野 秀男、松本 聡

特開平07-094688 SOI基板の製造方法
           石山 俊彦、永瀬 雅夫

特開平06-244090 電子ビーム露光位置検出用マークを有する半導体基板及びその製法
           永瀬 雅夫、生津 英夫

特開平06-132188 パターン形成法
           永瀬 雅夫、内海 裕一、赤沢 方省

特開平06-124950 半導体装置の製法
           生津 英夫、高橋 庸夫、石井 仁、永瀬 雅夫、細矢 徹夫、関本 美佐雄、金森 周一、及川 秀男、秋谷 秀夫

特開平05-291176 MIS型トランジスタの製造方法
           細矢 徹夫、永瀬 雅夫、今井 和雄

特開平05-234897 IV族半導体薄膜形成法
           赤澤 方省、内海 裕一、永瀬 雅夫、宇理須 恒雄

特開平05-190546 電極乃至配線層を有する半導体装置及びその製法
           永瀬 雅夫、宇理須 恒雄

特開平05-055760 多層配線構体形成法
           永瀬 雅夫、宇理須 恒雄

実開平04-093050 真空掃除機用アタツチメント
           金森 周一、八木 祥次、林 順三、町田 克之、岸 健志、永瀬 雅夫、石井 仁

特開平03-290927 導電性層形成法
           永瀬 雅夫、町田 克之、及川 秀男

特開平03-284863 温度測定法及び温度測定装置
           永瀬 雅夫、石井 仁、町田 克之、及川 秀男

特開平03-167430 温度測定法
(特許2717221)    永瀬 雅夫、石井 仁、及川 秀男、中島 蕃

特開平01-232758 相補型MISトランジスタ装置の製法
           江原 孝平、斎藤 和之、佐藤 芳之、永瀬 雅夫

特開平01-041241 電極配線及びその製造方法
           池田 浩一、及川 秀男、永瀬 雅夫、遠田 均

特開昭63-306665 絶縁ゲート型電界効果トランジスタおよびその製造方法
           斎藤 和之、佐藤 芳之、江原 孝平、永瀬 雅夫

特開昭63-306658 半導体装置およびその製造方法
           森本 孝、吉野 秀男、永瀬 雅夫

特開昭63-260052 半導体装置及びその製造方法
           牛坂 博則、佐藤 芳之、永瀬 雅夫、斎藤 和之

特開昭63-226920 半導体装置の製造方法
(特許2809393)    佐藤 芳之、斎藤 和之、江原 孝平、永瀬 雅夫

特開昭63-119266 MOS型半導体装置の製造方法
           江原 孝平、斎藤 和之、佐藤 芳之、永瀬 雅夫

特開昭63-117420 シリサイド層の形成方法
           永瀬 雅夫、斉藤 和之、吉野 秀男

特開昭63-114169 バイポーラトラジスタとその製造方法
(特公平07-105396) 森本 孝、永瀬 雅夫

特開昭62-183114 半導体装置の製法
(特公平07-052727) 永瀬 雅夫、吉野 秀男、海野 秀之

特開昭62-098723 半導体デバイスの電極製造方法
           金森 周一、永瀬 雅夫



Last modified:2010/1/21
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